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NY-407CRDR低對比度細節檢測模體
更新時間： 2024-11-19
訪問次數： 1016
產品報價：
產品特點： 產品簡介 用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
NY-407CRDR低對比度細節檢測模體的詳細資料：
NY-407CRDR低對比度細節檢測模體
產品簡介
用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
主要技術參數：
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm，300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記
NY-407CRDR低對比度細節檢測模體
產品簡介
用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
主要技術參數：
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm，300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個，精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記
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